致茂電子聚焦AI人工智慧 國際半導體展展現先進測試科技

致茂電子（Chroma）於9月6~8日在台北南港展覽館一館1F（攤位：K2776）參加國際半導體展（SEMICON Taiwan 2023），將展示一系列創新的半導體測試解決方案，專注於AI人工智慧、高效能運算（High Performance Computing, HPC）、汽車半導體與AIoT 等運用，以滿足不斷演進的半導體測試需求，並於半導體先進檢測與計量國際論壇，探討半導體先進封裝中新型態的計量解決方案。

■先進SoC/Analog測試解決方案

Chroma 3650-S2 SoC/類比測試系統是致茂電子新推出的高效能Power IC測試平台，可滿足現今高電壓、大電流、與複雜數位控制的Power IC測試需求，提供最高768電源或數位通道，最高3000V或320A的供電能力，200Mbps數據速率與300ps EPA等，是測試鋰電池管理IC、電源管理IC、以及GaN與SiC相關Power IC的理想選擇。

Chroma 3680高精度SoC測試系統有效滿足人工智慧（AI）與車用等尖端科技晶片的測試需求，可提供高達2048個數位通道，數據速率最高可達1Gbps，支持最高16G SCAN向量存儲深度，並提供多種測試模組供使用者選擇，可同時完成數位邏輯、參數測試單元、電源、記憶體、混合訊號等測試。

■RF射頻晶片測試解決方案

Chroma 3680/3380/3300 ATE測試系統整合射頻晶片測試儀 Model 35806，擴充為完整的RF射頻晶片測試方案，並已通過客戶量產驗證。可支援包含Bluetooth、Wi-Fi、NB-IoT、與GPS/BeiDou等（IoT）通訊標準與Tuner & PA等應用，內含300K~6GHz全頻覆蓋的超高頻寬VSG/VSA模組，更可廣泛應用於未來各式無線通訊標準。

■SLT三溫測試解決方案

Chroma 31000R-L為Tri-Temp三溫測試系統，可應用於各種嚴峻的溫度測試，系統提供-40～+150℃穩定的溫控能力，DUT解熱可高達1,800 Watt，是各種先進與高端IC三溫測試系統的理想選擇。

Chroma 31000R-L可與3210、3110、3260、3200等機型搭配，提供從LAB（laboratory）到FAB（fabrication）完整的SLT（System Level Test）三溫測試解決方案。Chroma三溫測試解決方案可滿足各種先進與高端IC的應用領域，像是Automotive、AI & Data Center、GPU、APU、HPC以及Aerospace & Defense等各種應用領域，使用此測試解決方案，可確保IC在嚴苛環境下運作無虞，是產品可靠測試的最佳選擇。

■半導體功率元件的絕緣品質守護者

功率元件（IGBT & SiC-MOSFET）被應用於各種領域且經常被使用於高功率/大電流的電源轉換/控制線路、隔離元件（光耦合器&數位隔離器）被應用於各種需要隔離電壓的環境，這些元件上會出現較高的跨壓或壓差，因此，確保元件在正常的工作條件下，維持良好的耐壓絕緣及無連續性局部放電導致絕緣劣化至關重要。Chroma 19501系列局部放電測試器符合法規IEC 60270-1對局部放電（Partial Discharge, PD）量測的要求，並將法規的測試方法設計於儀器內，可提供AC耐壓測試（Max. 10kVac）及局部放電量測（Max. 6,000pC），能有效的為功率元件及隔離元件等長期工作的品質與可靠性做把關。

■先進封裝量測方案

針對先進封裝製程，以自有技術開發非接觸式光學檢測設備。Chroma 7961 in situ AOI協助客戶於製程中檢測瑕疵，即時進行生產品質分析與管控；Chroma 7980 3D晶圓量測系統以自有專利技術的BLiS技術，提供奈米級2D/3D關鍵尺寸量測，且依應用最佳化的軟硬體，已可對應先進封裝製程中：TSV、RDL的各種2D/3D關鍵尺寸量測。

■半導體材料的奈米粒子監測系統

隨著半導體材料的品質要求大幅提高，材料檢驗及監控成了重要的考驗。SuperSizer奈米粒子監測系統成功揪出影響化學溶液良率的殺手—奈米粒子及不純物質，協助在20奈米以下製程「看」清楚諸多超細微粒。量測過程完全不受奈米氣泡的干擾，精準量測小至3奈米的粒子大小及數量分布，掌握良率、控制風險。