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半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest ）今日宣布旗下MPT3000固態硬碟 (SSD) 測試平台新增兩大生力軍，分別是獨立溫控 (ITC) 測試介面板 (DIB) 和工程溫箱 (ETC) ，切入早期工程開發階段，主打滿足SSD元件之高效、小量工程、品質保證和測試研發需求。
愛德萬表示，第五代PCI Express (PCIe Gen 5) 等先進運算標準問世，催生更高速的SSD設備，頻寬也大幅提升，以適用高階的資料中心和其他高儲存應用需求。這些更快、容量更大的SSD設備，必須在精準可重現作業溫度的控溫環境中進行特性量測與測試。
專為元件測試認證和驗證而設計的ETC，整合到MPT3000ES3測試系統中，可處理最高功率的PCIe Gen 5 設備。此功能可做到溫箱內-10°C到85°C精準控制環境溫度，並利用氣流對多達32個4線 DUT進行精準調節。ETC 最適合在前述範圍內之設定溫度下，對小量DUT進行特性量測。
MPT3000HVM3測試系統專為量產測試和認證而設計，支援ITC DIB，使用者得以精準設定和維持硬碟溫度恆定。主動溫度回饋機制來自DUT的溫度，控制風扇速度維持恆定的DUT 溫度。關於標準DIB的改善，標準DIB供應恆定的冷卻空氣，並允許DUT溫度隨著測試周期的瓦特數變化而波動。ITC DIB在DUT兩側都設計空氣通道，即使在非同步測試周期時，亦能在所有DUT上維持DUT溫度恆定。
愛德萬MPT3000產品線副總Indira Joshi指出，客戶愈來愈需要易於操作的解決方案，以滿足SSD設備之工程、品質保證和早期測試開發需求，確保設備在終端環境中能可靠地運作。有了這些適用於我們成熟的MPT3000測試平台的最新產品，使用者便能有效率且小量地執行所有任務，進而提升測試、認證和驗證的靈活性。
愛德萬表示，工程溫箱與獨立溫控測試介面板目前已開始向客戶出貨。這些產品預計將於2023年第4季供貨。
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