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115分科測驗/金屬探測器派上用場 考分區首查獲考生攜帶 AI 眼鏡

115學年度大學分科測驗今天登場,並由大考中心邀請台北市高中教師協助解題評析。記者許正宏/攝影
115學年度大學分科測驗今天登場,並由大考中心邀請台北市高中教師協助解題評析。記者許正宏/攝影

本文共314字

聯合報 記者許維寧/台北即時報導

115升大學分科測驗今天登場,因應科技發展,大考中心今年首度啟用電子及金屬探測防弊措施,大考中心主任張新仁表示,考試第一天金屬探測器就派上用場,考分區於物理科考試時查獲一件學生使用AI眼鏡的案例,提醒學生切勿以身試法,以免得不償失。

張新仁表示,考分區查獲學生於物理科考試攜帶AI眼鏡,目前還在做通盤了解,將蒐集完整資訊並回報考委會審議,屆時會依照簡章規定,根據事證處議。

另外,張新仁也說,化學科也額外查獲9件違規案例,主要樣態仍為7件未攜帶應試有效證件正本,且未於時間內送達;另有1位學生於考試時明確使用手機,1位則攜帶已關機的手機入座。

加計物理科違規,截至違規數量已達32件,大考中心將於今日考試結束後綜整說明違規數量與樣態。

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