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惠特布局光電測試 聚焦光通訊與矽光子

本文共550字

經濟日報 翁永全

惠特科技專注於光電半導體與半導體產業製程相關設備研發,產品涵蓋LED、Micro LED、雷射二極體(LD)、光二極體(PD)及矽光子(SiPh)等晶圓與晶粒之測試解決方案,提供客戶完整的解決方案。

隨著次世代顯示技術發展,惠特攜手雷傑推出Micro LED測試及巨量轉移完整解決方案,涵蓋晶粒測試、基板剝離、AOI外觀檢測、不良晶粒雷射去除、雷射補晶等設備。並開發整合自動上下料功能的Dumping設備,有效提升產線效率。

Micro LED不良晶粒雷射去除(Laser Dumping)機。惠特/提供
Micro LED不良晶粒雷射去除(Laser Dumping)機。惠特/提供

Micro LED技術應用於穿戴式裝置、AR/VR頭戴顯示器等顯示應用,市場更關注在短距離光通訊的潛力。惠特投入開發可量測DC、藕光、RF特性、誤碼率的測試設備。在光通訊與光傳感市場完成全面布局,針對中長距離通訊應用的DFB、EML元件;廣泛用於短距離高速傳輸與光感測(如自動駕駛LiDAR)的VCSEL元件,及光感測PD元件,提供完整製程解決方案,涵蓋晶圓劃線、劈裂、晶圓測試、Bar條測試、晶粒測試、AOI與老化等完整製程解決方案。

面對AI浪潮、高效能運算與資料中心對超高速傳輸需求快速成長,矽光子為關鍵核心元件。惠特投入矽光子製程設備開發,包含針對光纖陣列外觀檢測、矽光子元件主/被動耦光貼合、光纖陣列測試等設備,用於CPO的光纖陣列耦光貼合設備,與知名大廠合作開發完成。

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