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愛德萬測試 2021 系統單晶片測試技術研討會 報名參加人數創歷年新高

本文共632字

經濟日報 翁永全

愛德萬測試日前在新竹喜來登飯店盛大舉行2021系統單晶片測試技術研討會 (SoC Technical Seminar) ,分享最新的測試解決方案,並設置科技資訊站(Technical Kiosk) ,提供技術專家和與會嘉賓各種測試與應用經驗。

愛德萬測試每年定期舉辦系統單晶片測試研討會,至今已逾十年,歷年皆邀請國外技術專家親自出席介紹最新測試解決方案,這兩年受疫情影響,進行方式改為Hybrid,國外技術專家預錄影片於現場播放,再以線上方式進行問答和互動,獲得半導體產業上中下游客戶肯定,超過50家企業前來參與;今年更創歷史新高,超過360人報名,近290人實際參與當天的活動,盛況空前,現場氣氛熱絡。

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今年的技術研討會由台灣愛德萬測試新任董事長暨總經理吳萬錕開場致歡迎詞,集團社長吉田芳明(Yoshida-san)也錄製影片捎來問候與祝福。副總經理蘇勇鴻以豐厚的產業經驗分享半導體產業的市場趨勢與觀點分析。

產品簡報涵蓋V93000各項應用領域,從針對行動處理器和HPC/AI應用的EXA Scale世代系統,到V93000平台最新的RF解決方案,會議中亦提及電源管理IC解決方案,及分享針對掃描與基於軟體之測試的最新方法,以及支援此新方法之創新V93000平台Link Scale通道卡。

科技資訊站介紹最新V93000 EXA Scale通道卡及多元使用案例,展示硬體與應用範例,讓測試發展更容易、有助客戶加快產品上市時程的最新軟體功能。研討會最後以摸彩活動結尾。

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