• 會員中心
  • 訂閱管理
  • 常見問題
  • 登出
notice-title img

親愛的用戶 您好:

謝謝您一直以來的支持及勉勵,是我們最珍視的優質會員。

經濟日報網全新改版,推出「數位訂閱」服務,特別獻上專屬4折優惠。

期許更多具脈絡的深度內容,為您梳理碎片化的財經資訊。

下次再說

芯測科技發表使用者自定義測試演算法 提高測試精準度

本文共1118字

經濟日報 蔡穎青

隨著人工智慧、邊緣運算、物聯網與AIoT的應用越來越廣泛,市場對於晶片的需求就越大。這些晶片使用SRAM(SRAM, Static Random Access Memory),作為驅動晶片運行的主要程式儲存的地方,如何精準找出SRAM的缺陷,並且節省晶片測試成本相當重要。所以,如何選用兼具測試精準度與降低測試成本的記憶體測試演算法,一直是晶片製造商關注的問題。

專注於記憶體測試與修復解決方案的芯測科技(6786),供應記憶體測試與修復解決方案,並提供客製化設計服務,在晶片開發中扮演著關鍵的角色。芯測科技發表「使用者自定義測試演算法(User Defined Testing Algorithms)」微架構,讓晶片製造商,搭配芯測科技的使用者手冊,自行設計出晶片專屬的記憶體測試演算法,提高記憶體測試的精準度與降低測試成本。

推薦

芯測科技所推出的『使用者自定義測試演算法(User Defined Testing Algorithms)』微架構,提供了高度彈性化與簡單化的使用環境,採用GUI(GUI, Graphical User Interface)的操作環境,搭配使用手冊,讓使用者可以輕鬆的定義出定製化的記憶體測試演算法。透過「使用者自定義測試演算法(User Defined Testing Algorithms)」微架構,晶片製造商可以自行設計出最符合晶片的記憶體測試演算法,在降低DPPM的同時,也可以兼顧到測試成本的降低。

芯測科技為了因應晶圓代工廠的漲價情況,開發了專利化「使用者自定義測試演算法(User Defined Testing Algorithms)」微架構,可以讓晶片製造商有效的利用『使用者自定義測試演算法(User Defined Testing Algorithms)』,針對SoC(SoC, System on Chip)內的SRAM,根據晶片的製程、程式型態與終端產品的應用方向,設計出適當的記憶體測試演算法,降低DPPM。

由於晶圓代工廠的漲價,加上晶片開發的複雜度提高,導致使用記憶體的需求也大幅提高。所以,晶片設計公司需要有效率且符合成本的記憶體測試演算法。芯測科技的『使用者自定義測試演算法(User Defined Testing Algorithms)』,讓SoC內SRAM的缺陷,可以更精準的被找出來,同時,也可以透過『使用者自定義測試演算法(User Defined Testing Algorithms)』降低晶片的測試費用。這樣的微架構,可以大幅降低晶片開發成本,更可以有效的降低DPPM。使得芯測科技在晶片開發中扮演著關鍵的角色,未來前景看好。



※ 歡迎用「轉貼」或「分享」的方式轉傳文章連結;未經授權,請勿複製轉貼文章內容

上一篇
TPMA北中南營運中心成立 擴大推廣個人職能國際標準
下一篇
海巡艦艇領銜全球 指揮系統構聯智慧IOT

相關

熱門

看更多

看更多

留言

完成

成功收藏,前往會員中心查看!