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作者: iST宜特科技 談到「漏電」,半導體工程師一定很熟悉;但「漏光」呢? 在積體電路(Electrical Integrated Circuit, 簡稱EIC)的世界,短路、
作者: iST宜特科技 全球AI大廠傾注資源,頂尖工程師竭盡腦汁。為什麼矽光子迄今仍無法順利量產?從電路跨入光路,隔行如隔山。矽光子這場史詩級戰役,最終誰能戴上勝利桂冠? 20
隨著市場對創新產品的需求日益增加,企業面臨更短的開發時程壓力。新產品開發週期加速,意味著從設計、試產到量產的時間被大幅壓縮,進而對可靠度驗證提出更高的效率與彈性要求。特別是在許多新興技術尚未建立完整可靠度測試規範的情況下,驗證團隊需自行設計模組與支援機制,以滿足不同情境下的監控與測試需求。
電動車技術的快速發展,800V電力系統逐漸成為主流,甚至還有大廠開出1200V的氮化鎵(GaN)功率晶片規格。隨著電壓與功率的提升,產品可靠度的挑戰也隨之增加。日益嚴格的驗證標準,如何滿足?繁雜的國際規範,又該如何掌握?是否有適用於高電壓高功率產品的完整驗證解決方案?
非常恰巧的是,這些輕元素的化合物正是製造半導體元件的常用材料。因此,當TEM/EDS分析涉及這些元素時,若無特殊校正技術,成分分析的準確性將難以保證。上一期文章對輕元素吸收效應進行了初步介紹,而本篇文章將延續此主題,進一步分享如何利用校正技術來提升分析精度,從而滿足現代半導體製程與新材料研究的嚴苛需求。
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