愛德萬測試 開啟由AI加速半導體測試新紀元

半導體測試解決方案領導廠商美國愛德萬測試 (Advantest America) 近日發布結合人工智慧運算的新的半導體測試解決方案，導入輝達NVIDIA的先進機器學習 (ML) 技術於其即時資料處理平台 (ACS RTDI)，推進轉型傳統測試流程進階成為人工智慧自適應學習方式。NVIDIA已選擇導入ACS RTDI平台應用於Blackwell及次世代新產品的量產，目標是實現突破性的效率提升、降低成本並改善良率。

引領測試智慧化新趨勢

晶片測試是晶片製造重要的一環，確保每個元件皆符合嚴格的品質與效能標準。過往從資料收集、除錯分析與測試部署時間需要數週不等。ACS RTDI則將半導體量產測試傳統流程轉變為AI 驅動、能持續自我調整，將測試從「驗證」進化到「預測」。

ACS RTDI結合輝達的AI推論 (AI Inference) 科技，將人工智慧帶進半導體測試。NVIDIA Blackwell及未來的晶片，將受惠於ACS RTDI的跨站點即時數據傳輸能力 (Data-Feed-Forward) ，將不同測試階段的龐大資料流，透過輝達GPU加速運算，優化每顆晶片測試。可擴充的GPU架構能輕易擴展所需運算能力，支援多重機器學習模型並行訓練，實現不間斷預測運作以提升良率、動態優化測試覆蓋率，並大幅降低運算延遲、功耗與成本。

擴大導入AI級別量產測試

ACS RTDI 已完成在全球多個半導體測試量產環境部署，展現卓越穩定性，且安全地支援各類產品應用人工智慧及機器學習進行自動化測試。其彈性架構能分開處理資料準備、演算法與推論的結果等重要的元素，使晶片廠商能迅速因應生產需求變化進行靈活調整。

愛德萬測試副總暨雲端解決方案事業處總經理張立翰表示：「在量產環境中導入輝達 AI的超強運算及推論技術，充分展現ACS RTDI所具備的顛覆性潛力。我們的合作加速整合了即時運算與即時資料存取的能力，開啟能自我調整、可擴充、由人工智慧驅動的新時代半導體測試格局。」

打造AI驅動的未來測試環境

愛德萬測試亦計畫將輝達的神經模組框架NeMO (Nvidia Neural Modules Framework)與生成式 AI 微服務架構 (Nvidia NIM Microservices) 整合至ACS半導體測試數據分析解決方案中。這些技術將能有效的整合多方面量產測試資料、模型評估，並部署成可直接於測試環境中執行的生成式AI代理（AI Agent）。

透過上述整合，愛德萬測試為下一波半導體創新奠定基礎，讓AI不僅能加速晶片開發流程，徹底改變晶片測試、驗證與導入市場的方式。