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芯測科技於 2025 亞洲金選獎（EE Awards Asia）中脫穎而出，旗下自主研發的 EDA 工具 START™ v5（SRAM 測試與修復解決方案）榮獲「年度最佳 EDA（Best EDA of the Year）」殊榮，並由芯測科技王筱萍副總經理於2025年12月5日代表領獎。
START™ v5是以公司專利技術「用於產生記憶體自我測試演算法電路之方法（METHOD FOR GENERATING A MEMORY BUILT-IN SELF-TEST ALGORITHM CIRCUIT）」為核心所打造的高階記憶體測試與修復平台。此技術自 2022 年取得台灣專利後，於 2023 年 10 月成功取得美國專利，象徵芯測科技於國際記憶體測試領域的研發突破獲得全球專業肯定。本次獲得亞洲金選獎，更進一步展現台灣 EDA 技術在國際舞台上的實力與創新能量。
本次得獎彰顯了 START™ v5 的技術創新與實務價值獲得專業市場高度肯定，並確立了芯測科技在記憶體測試與修復技術領域的產業領導地位。
傳統記憶體測試演算法常因重複測項造成測試時間冗長、製造成本上升、演算法缺乏客製化彈性等問題，START™ v5 的 UDA 模組化演算法架構，徹底改善了這些問題。透過可編輯、可客製化的測試元素，工程師能刪除冗餘測試項目、客製化測試流程，並針對不同製程與 SRAM 設計快速調整策略。如此一來，便能縮短測試時間、大幅降低成本，同時提升測試覆蓋率、強化晶片良率與產品可靠度，並降低 DPPM。
START™ v5 所展現的彈性架構、演算法可擴展性與良率優化能力，使其成為多家國內外先進 IC 設計企業提升良率的重要工具。芯測科技表示，此次獲得「年度最佳 EDA」獎項，不僅是對公司研發團隊的肯定，更強化了其持續投入先進製程、高可靠度測試技術的決心，未來將持續協助更多客戶在先進製程環境中攻克記憶體測試挑戰，改善設計效能並提升量產可靠度。
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