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美國在台協會（AIT）商務組一行四人由商務組長歐潔帶隊，近日拜訪利易達半導體設備公司，雙方就半導體設備技術與未來合作可能性進行深入交流。
利易達半導體設備執行長侯靖圻於會中介紹公司核心技術，特別強調自主研發的12吋 mask aligner 曝光機，具備 L/S(Line/Space) 1微米解析度，目前市場上尚無其他廠商能達到同等水準。侯靖圻並向來訪團隊簡介公司發展歷程與技術優勢，展現台灣在半導體設備領域的創新能量。
隨著先進封裝（Advanced Packaging）、CoWoS、矽光子（Silicon Photonics）、CPO（Co-Package Optics） 以及 功率半導體 SiC 等關鍵市場快速成長，半導體製程的品質監控與信賴性檢測 已成為全球產業鏈競相投入的重要戰略領域。在此趨勢帶動下，利易達公司引進美國先進 EUV/XUV/VUV 極短波長光源，可用於 封裝缺陷偵測、埋層結構量測、薄膜應力與折射率變化分析、奈米裂縫與界面 delamination 檢測，在面對 CoWoS、大型異質整合封裝、3D IC、SiPh 導波結構與高速光電封裝時，提供傳統光學與 X-ray 難以達成的解析能力，為新世代半導體檢測設備帶來更高靈敏度、更高解析度與更深穿透能力的整合方案。
利易達表示，透過引進美國最先進的光源平台並深化技術交流合作，可望大幅提升台灣半導體業者在 奈米檢測、材料分析與先進封裝可靠度量測 的研發與產線能力。此合作不僅將補強本土供應鏈在次世代檢測設備的關鍵技術，更將強化台灣於全球半導體產業中的策略影響力。
利易達強調，公司將持續整合國際尖端量測技術，攜手美國夥伴推動檢測設備升級，協助客戶在高複雜度的先進製程中維持更高的品質標準，加速台灣在全球半導體供應鏈中的關鍵布局。
此次交流不僅展現利易達在半導體設備領域的技術突破，也為台美雙方在高科技產業的合作奠定良好基礎。
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